Por que as conexões de fusíveis na ROM programável não causam curto-circuito na matriz inteira?

Se a lógica do uso de diodos na ROM (em vez de fios simples) é impedir que a matriz seja colocada em curto, então por que não ocorre um curto-circuito na ROM programável - que possui conexões de fusível com fusível?

Desculpas se não deveria estar iniciando um novo thread para isso; observe que a pergunta é inspirada por uma resposta aqui. Qual é a lógica do uso da matriz de diodos na ROM , mas não tenho 'rep' suficiente para comentar minha pergunta lá.

A ROM programável por fusível não é uma matriz XY com fio simples, com fusíveis em cada interseção. Isso não funcionaria, pelas razões que você dá.

Normalmente, os transistores são usados ​​em cada interseção, assim.

Imagem daqui , vale a pena visitar se você estiver interessado em outros tipos de ROM.

Conceitualmente, algo tão simples quanto um diodo em série com cada fusível serviria para permitir a leitura e a seleção do fusível apropriado para queimar. No entanto, há muito desenvolvimento e tecnologia entre a idéia básica e um produto comercial. Curiosamente, muitas ROMs de fusíveis usam 'anti-fusíveis'. No processo correto, a alta tensão pode perfurar a camada dielétrica de um capacitor e reduzi-lo com mais confiabilidade e baixo custo do que a alta corrente pode abrir um fusível.